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回到北京！

立刻预定展位，迎接射频、微波和 图3：Monte Carlo分析实例。
高速数字设计领域的工程师们的拜访

3月20-22日

国家会议中心

北 京

马上计划参展!

与工作在下列领域的专业人士深入交流：
• 射频和微波
• 信号完整性和功率完整性 图4：贡献分析实例。
• 高速数字设计
线性和非线性输入变化映射到输出变化 证提供了重要的新功能，特别是运行测
• 半导体 上（图4）。例如，从Monte Carlo结果 试平台的多种变体的能力。例如，为了
• 测试和测量设备 可以看出，电源电流（I dd ）对变化具有 表征模数转换器（ADC）的信噪比+失
• 材料和封装 二阶依赖性，电源电流的主要变化来源 真比（SINAD），可能需要测量过程中
• EDA/CAD 是rshhip，即高电阻多晶硅的电阻率。 的失真、电压和温度（PVT）的拐点以
• EMC/EMI 数据的其它视图还可以显示其它的相关 及使用Monte Carlo分析带来的容量不匹
配。Virtuoso ADE Assembler的另一个常
性，例如，哪些模块是变化的来源。随
着设计变得越来越复杂，因果关系变得 见的应用是验证数字辅助设计。例如，
征文即将开始! 越来越难以被设计人员轻松识别，贡献 假设设计者正在为接收器使用集成通道
分析提供了一个快速识别核心故障区域
滤波器，带通滤波器由五个双二阶部分
的有效工具。回到实时调谐，贡献分析 组成。通道滤波器的变化需要控制在
大会包括技术报告会、赞助商研习会、专家论坛、 可以用来定义要调谐的参数。最终模块 ±1%范围内，但是片上R和C组件的工
短课程、张贴论文和全体会议。 级别的验证可以被运行并验证规范的符 艺变化范围在30%之内。解决方案是调
合程度。 整设计中的R和C的值，以补偿工艺变
化。使用校准，我们获得了具有集成组
ADE Assembler和Verifier 件的片外滤波器的所有优点。定期校准
Virtuoso ADE Assembler为设计验 意味着可以消除诸如温度漂移等现象产

立即签约选择理想的展位！www.bsc11.com/edicon

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图5：拐点分析实例。

Microwave Journal China 微波杂志 Sep/Oct 2017 75